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AT256 A4 pro4集成电路测试仪

 

AT256 A4 pro4集成电路测试仪


英国abi_AT256 A4 pro4集成电路测试仪通道配置:

 

二维集成电路专用V-I动态阻抗端口测试通道:256路
二维电路板专用V-I动态阻抗端口测试通道:256路(可扩充至2048路)
三维扫频V-I-F动态阻抗端口测试通道:256路(可扩充至2048路)

 

功能用途:

 

1)集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测;
2)快速筛选假冒、仿制集成电路及元器件;
3)对不良器件进行三维动态阻抗失效分析;
4)非加电条件下对集成电路、电路板进行全面的端口动态阻抗测试分析;
5)快速准确定位失效集成电路故障管脚,高效查找故障电路板的失效I/O管脚;
6)测试安全可靠,全面解决器件工艺、电路板工艺问题,快速解决集成电路及电路板故障点定位问题;
7)进行集成电路和电路板阻抗一致性检测;
8)配合专用测控平台软件,实现集成电路、电路板定制化和自定义编程测试。

 

技术规格:

 

1)256路二维集成电路专用V-I端口动态阻抗测试通道;
2)256路二维电路板专用V-I端口动态阻抗测试通道;
3)256路V-I-F三维立体动态阻抗测试通道;
4)4路探笔测试,4路V-T/V-T-F测试通道;
5)显示图形模式:V-I, V-T, V-I-F, V-T-F;
6)可定制各种封装通用集成电路测试治具;
7)可定制各种电路板I/O接口测试治具;
8)系统提供测试自定义报告输出;中英文专用测试操作软件;
9)设备可以64通道为步进扩充到2048组测试通道。

 

英国abi_AT256 A4 pro4集成电路测试仪测试原理(V-I曲线测试):

 

对元器件的每个管脚施加一个安全的低功率的扫描驱动信号,产生一个阻抗特征图,以备对比和存储。
被测器件和数据库中标准动态阻抗图相比对,阻抗图的差异大小即可判断元件的好坏和可用性。
测试信号可设定的参数包括: 电压、波形、源电阻、频率。可根据需要进行调整以便得到准确的信息。

 

集成电路测试操作如此简单:

 

1.从数据库选择要测试的集成电路型号.
2.将集成电路插入测试座.
3.执行测试
4.得到PASS或FAIL的测试结果.

 

商品输入检验

 

不需要电子专业知识.
适用于所有集成电路/封装件.及各种类型电路板
灵活、好安装、宜操作.
测试结果直接: PASS或FAIL.
软件可设定各种测试条件.
可提供完整的元件测试分析报告.

适合不同封装形式的元件:

 

-双列插脚(DIL)
-小型封装集成集成电路(SOIC)
-小型封装(SSOP, TSOP)
-塑料无引线芯片载体封装(PLCC)
-四方扁平封装(TQFP, PQFP, LQFP)
-球门阵列封装(BGA)
注意: AT256 A4 pro4不受限于只能测试电子集成电路, 也可用于整个电路板卡。

三维立体V-I-F动态阻抗端口测试

 

英国abi三维立体V-I-F动态阻抗端口测试

 

AT256 A4 pro4测试报告

 

英国abi集成电路测试仪测试报告