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某研究中心测试案例-CY7C1021CV33故障器件测试报告
测试时间：2012-03-22
测试结果：失败
测试元件型号：CY7C1021CV33
Test Summary
| Device: | CY7C1021CV33 |
|---|---|
| Package: | 44 pin SOIC wide |
| Scan Profile: | Low V Digital |
| Overall Result: | SUCCESS |
| Operator: | Administrator |
| Report Date: | 20 March 2012 |
| Pin Summary | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| Detailed Pin Analysis | |
|---|---|
| Pin 1: SUCCESS  |
Pin 2: SUCCESS  |
| Pin 3: SUCCESS  |
Pin 4: SUCCESS  |
| Pin 5: SUCCESS  |
Pin 6: SUCCESS  |
| Pin 7: SUCCESS  |
Pin 8: SUCCESS  |
| Pin 9: SUCCESS  |
Pin 10: SUCCESS  |
| Pin 11: SUCCESS  |
Pin 12: SUCCESS  |
| Pin 13: SUCCESS  |
Pin 14: SUCCESS  |
| Pin 15: SUCCESS  |
Pin 16: SUCCESS  |
| Pin 17: SUCCESS  |
Pin 18: SUCCESS  |
| Pin 19: SUCCESS  |
Pin 20: SUCCESS  |
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| Pin 38: SUCCESS  |
Pin 39: SUCCESS  |
| Pin 40: SUCCESS  |
Pin 41: SUCCESS  |
| Pin 42: SUCCESS  |
Pin 43: SUCCESS  |
| Pin 44: SUCCESS  |
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| Pin 36: FAIL  |
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